Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2019, том 49, номер 4, страницы 399–403 (Mi qe17013)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Волоконная оптика

Метод изготовления волоконного отражательного интерферометра на основе металлодиэлектрической дифракционной структуры

В. С. Терентьевa, В. А. Симоновa, И. А. Лобачab, С. А. Бабинab

a Институт автоматики и электрометрии СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет
Список литературы:
Аннотация: Представлен и экспериментально продемонстрирован новый метод изготовления в одномодовом волокне двухзеркального волоконного отражательного интерферометра, состоящего из асимметричного входного зеркала с асимметричными коэффициентами отражения и высокоотражающего заднего зеркала. Входное зеркало выполнено на основе металло-диэлектрической дифракционной структуры в виде отверстия в пленке алюминия и диэлектрического многослойного покрытия, что дает асимметрию коэффициента отражения. Метод включает расчет энергетических коэффициентов алюминиевой пленки с отверстием, определение оптимального диаметра отверстия, способы изготовления отверстия, входного зеркала и резонатора с короткой волоконной базой. Продемонстрирован образец интерферометра, имеющий повышенную (как минимум на два порядка) лучевую стойкость по сравнению с вариантами на основе сплошной металлической пленки – не менее 100 мВт излучения в одномодовом волокне типа SMF-28e на длине волны 1550 нм.
Ключевые слова: волоконный отражательный интерферометр, алюминиевая пленка с отверстием, диэлектрическое интерференционное покрытие, дифракция.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций АААА-А17-117062110026-3
Работа выполнена в рамках темы госзадания ИАиЭ СО РАН (№ АААА-А17-117062110026-3).
Поступила в редакцию: 29.11.2018
Исправленный вариант: 18.01.2019
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2019, Volume 49, Issue 4, Pages 399–403
DOI: https://doi.org/10.1070/QEL16922
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья


Образец цитирования: В. С. Терентьев, В. А. Симонов, И. А. Лобач, С. А. Бабин, “Метод изготовления волоконного отражательного интерферометра на основе металлодиэлектрической дифракционной структуры”, Квантовая электроника, 49:4 (2019), 399–403 [Quantum Electron., 49:4 (2019), 399–403]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe17013
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v49/i4/p399
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:189
    PDF полного текста:69
    Список литературы:22
    Первая страница:7
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024