Измерение параметров излучения сверхкороткой длительности методом спектральной интерферометрии чирпированных импульсов

Экспериментально реализован простой и надежный способ измерения контраста сверхкоротких импульсов, основанный на применении принципов спектральной интерферометрии чирпированных импульсов. Метод является линейным по полю исследуемого излучения и основан на измерении с интерферометрической точностью спектра усиленного чирпированного импульса до прохождения временного компрессора. Показано, что при использовании системы регистрации с динамическим диапазоном 10² возможны измерения контраста вплоть до 10⁵. Показана возможность применения метода для оперативного контроля параметров излучения твердотельных лазерных источников сверхкоротких световых импульсов на примере оптимизации стартовой части пикосекундной лазерной системы на неодимовом стекле с длительностью импульса на выходе ∼1 пс.