Апериодические отражательные дифракционные решетки для мягкого рентгеновского излучения и их применение

Выполнен краткий обзор работ, посвященных созданию и использованию в эксперименте спектральных приборов на основе апериодических отражательных дифракционных решеток с шагом, который монотонно меняется на апертуре по заданному закону (VLS-решеток). Рассмотрено применение приборов на основе VLS-решеток для спектроскопии лабораторной и астрофизической плазмы, в том числе для диагностики релятивистской лазерной плазмы, для измерения ширины линии излучения рентгеновского лазера, регистрации высоких гармоник лазерного излучения, излучения быстрых электрических разрядов и других лабораторных источников рентгеновского излучения, а также в рефлектометрии, рентгеновском флуоресцентном анализе и микроскопии с использованием синхротронного излучения и излучения лазерной плазмы и в эмиссионной спектроскопии, совмещенной с электронным микроскопом. Рассмотрены достижения в начатых в последние годы разработке и создании специализированных VLS-спектрометров для исследования электронной структуры различных материалов и молекул методом спектроскопии резонансного неупругого рентгеновского рассеяния синхротронного излучения. Описаны создаваемые на основе вогнутых VLS-решеток скользящего падения спектрографы с плоским фокальным полем, совместимые с современными ПЗС-детекторами, а также плоские VLS-решетки, которые являются ключевым элементом сканирующих спектрометров/монохроматоров высокого и сверхвысокого разрешения с постоянным углом отклонения и стигматических (изображающих) спектрометров, также совместимых с ПЗС-детекторами.