Сканирующая фотоэлектронная микроскопия с использованием острого зонда-капилляра

Экспериментально продемонстрированы возможности нового типа сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) для двух различных образцов. Метод основан на использовании острого капилляра, который может одновременно выступать как "классический" зонд в СЗМ, так и управляемый тонкий канал для транспортировки к детектору испущенных поверхностью заряженных частиц. В эксперименте фотоэлектроны пропущены сквозь диэлектрический полый конический зонд с радиусом апертуры 1 мкм и зарегистрированы микроканальными пластинами в разных точках исследуемой проводящей поверхности, облученной второй гармоникой фемтосекундного титан-сапфирового лазера. В результате удалось визуализировать профиль поверхности образца с субволновым пространственным разрешением. Данный метод позволяет контролируемо перемещать пространственно-локализованные пучки электронов, ионов, нейтральных атомов (молекул), мягкого рентгеновского излучения и открывает возможности для исследований в области нанолокальной фотодесорбции молекулярных ионов.