| Квантовая электроника |
|
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 12 научных статьях (всего в 12 статьях) Рентгеновская оптика Изображающий дифракционный VLS-спектрометр для области длин волн λ > 120 Å Е. А. Вишняковa, А. О. Колесниковab, А. А. Кузинbc, Д. В. Негровb, Е. Н. Рагозинab, П. В. Сасоровd, А. Н. Шатохинab a Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва b Московский физико-технический институт (государственный университет), г. Долгопрудный Московской обл. c Институт спектроскопии РАН, г. Троицк d Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша Российской академии наук, г. Москва
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2017, Volume 47, Issue 1, Pages DOI: https://doi.org/10.1070/QEL16261 
Реферативные базы данных:
   Образец цитирования: Е. А. Вишняков, А. О. Колесников, А. А. Кузин, Д. В. Негров, Е. Н. Рагозин, П. В. Сасоров, А. Н. Шатохин, “Изображающий дифракционный VLS-спектрометр для области длин волн λ > 120 Å”, Квантовая электроника, 47:1 (2017), |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Обратная связь: |
Пользовательское соглашение
|
Регистрация посетителей портала |
Логотипы |
|