А. К. Верещагин, Н. С. Воробьев, П. Б. Горностаев, В. Л. Дорохов, С. С. Крюков, В. И. Лозовой, О. И. Мешков, Д. А. Никифоров, А. В. Смирнов, Е. В. Шашков, М. Я. Щелев, “Регистрация синхротронного излучения пикосекундной стрик-камерой для диагностики пучков в циклических ускорителях”, Квантовая электроника, 46:2 (2016), 185–188 [Quantum Electron., 46:2 (2016), 185

Квантовая электроника

RUS ENG

ЖУРНАЛЫ ПЕРСОНАЛИИ ОРГАНИЗАЦИИ КОНФЕРЕНЦИИ СЕМИНАРЫ ВИДЕОТЕКА ПАКЕТ AMSBIB

JavaScript is disabled in your browser. Please switch it on to enable full functionality of the website

	Общая информация
	Последний выпуск
	Архив
	Импакт-фактор
	Правила для авторов
	Загрузить рукопись

	Поиск публикаций
	Поиск ссылок

	RSS
	Последний выпуск
	Текущие выпуски
	Архивные выпуски
	Что такое RSS

Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
	Найти

Персональный вход:
Логин:
Пароль:
	Запомнить пароль
	Войти
	Забыли пароль?
	Регистрация

Квантовая электроника, 2016, том 46, номер 2, страницы 185–188 (Mi qe16327)

Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Акустооптика

Регистрация синхротронного излучения пикосекундной стрик-камерой для диагностики пучков в циклических ускорителях

А. К. Верещагин^a, Н. С. Воробьев^a, П. Б. Горностаев^a, В. Л. Дорохов^b, С. С. Крюков^a, В. И. Лозовой^a, О. И. Мешков^cb, Д. А. Никифоров^b, А. В. Смирнов^a, Е. В. Шашков^a, М. Я. Щелев^a

^a Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук, г. Москва
^b Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, г. Новосибирск
^c Новосибирский национальный исследовательский государственный университет

PDF полного текста (993 kB) Список цитирования (5)

Список литературы:

PDF

HTML

Аннотация: С помощью пикосекундной электронно-оптической камеры с линейной разверткой (стрик-камера) модели PS-1/S1 измерены временные параметры импульсов синхротронного излучения на накопителе-охладителе (НО) в Институте ядерной физики (ИЯФ) СО РАН (Новосибирск). Полученные данные позволяют судить о процессах формирования электронных сгустков и их "качестве" в НО после инжекции из линейного ускорителя. Показана целесообразность применения стрик-камер в составе оптического диагностического комплекса ускорителя для настройки инжекции из линейного ускорителя. Обсуждается вопрос о создании диссектора нового поколения с временным разрешением до единиц пикосекунд, с помощью которого будет осуществляться непрерывный мониторинг сгустков в НО при совместной работе с электрон-позитронными коллайдерами ИЯФ.

Ключевые слова: стрик-камера, диссектор, синхротронное излучение, оптическая диагностика.

Поступила в редакцию: 10.07.2015
Исправленный вариант: 13.11.2015

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2016, Volume 46, Issue 2, Pages 185–188
DOI: https://doi.org/10.1070/QEL15899

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья

Образец цитирования: А. К. Верещагин, Н. С. Воробьев, П. Б. Горностаев, В. Л. Дорохов, С. С. Крюков, В. И. Лозовой, О. И. Мешков, Д. А. Никифоров, А. В. Смирнов, Е. В. Шашков, М. Я. Щелев, “Регистрация синхротронного излучения пикосекундной стрик-камерой для диагностики пучков в циклических ускорителях”, Квантовая электроника, 46:2 (2016), 185–188 [Quantum Electron., 46:2 (2016), 185–188]

Образцы ссылок на эту страницу:

https://www.mathnet.ru/rus/qe16327

https://www.mathnet.ru/rus/qe/v46/i2/p185

Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:

Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles

Что такое QR-код?

Обратная связь:

Пользовательское соглашение

Регистрация посетителей портала

Логотипы