Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2015, том 45, номер 6, страницы 533–539 (Mi qe16185)  

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Лазерная плазма

Альфа-спектрометрия и фрактальный анализ микроизображений поверхности для характеризации пористых материалов, применяемых при изготовлении мишеней для экспериментов с лазерной плазмой

А. А. Аушев, С. П. Баринов, М. Г. Васин, Ю. М. Дроздов, Ю. В. Игнатьев, В. М. Изгородин, Д. К. Ковшов, А. Е. Лахтиков, Д. Д. Луковкина, В. В. Маркелов, А. П. Моровов, В. В. Шишлов

Российский федеральный ядерный центр — Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики, г. Саров Нижегородской обл.
Список литературы:
Аннотация: Приведены результаты применения метода альфа-спектрометрии для определения характеристик пористых сред, используемых в мишенях для экспериментов с лазерной плазмой. Показано, что по энергетическому спектру альфа-частиц после прохождения их через пористые образцы можно найти распределение траекторий по их длине в остове пен. Описана процедура получения такого распределения, исключающая его уширение вследствие статистического характера взаимодействия альфа-частиц с атомной структурой (страгглинг) и аппаратные эффекты. Проведён фрактальный анализ микроизображений поверхности тех же пористых образцов, которые изучались методом альфа- спектрометрии. Получены фрактальная размерность и распределение количества зёрен остова по их размерам. По этому распределению построено распределение суммарной толщины остова вдоль выбранного направления. Оно примерно совпадает с крылом распределения траекторий альфа-частиц по длине пути, соответствующим бóльшим длинам пути. Сделан вывод о том, что совместное использование метода альфа-спектрометрии и фрактального анализа изображений даст возможность судить о распределении зёрен остова (или пор) по размеру. Полученные результаты можно использовать как исходные данные при теоретическом рассмотрении распространения лазерного и рентгеновского излучений в конкретных пористых образцах.
Ключевые слова: мишени для исследования лазерной плазмы, пористые материалы, альфа-спектрометрия, фрактальный анализ поверхности.
Поступила в редакцию: 14.07.2014
Исправленный вариант: 05.09.2014
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2015, Volume 45, Issue 6, Pages 533–539
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2015v045n06ABEH015625
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 52.50.Jm, 52.57.Bc, 61.43.Hv


Образец цитирования: А. А. Аушев, С. П. Баринов, М. Г. Васин, Ю. М. Дроздов, Ю. В. Игнатьев, В. М. Изгородин, Д. К. Ковшов, А. Е. Лахтиков, Д. Д. Луковкина, В. В. Маркелов, А. П. Моровов, В. В. Шишлов, “Альфа-спектрометрия и фрактальный анализ микроизображений поверхности для характеризации пористых материалов, применяемых при изготовлении мишеней для экспериментов с лазерной плазмой”, Квантовая электроника, 45:6 (2015), 533–539 [Quantum Electron., 45:6 (2015), 533–539]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe16185
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v45/i6/p533
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024