А. Н. Латышев, А. А. Юшканов, “Определение толщины нанопленки с помощью резонансных частот”, Квантовая электроника, 45:3 (2015), 270–274 [Quantum Electron., 45:3 (2015), 270

Квантовая электроника

RUS ENG

ЖУРНАЛЫ ПЕРСОНАЛИИ ОРГАНИЗАЦИИ КОНФЕРЕНЦИИ СЕМИНАРЫ ВИДЕОТЕКА ПАКЕТ AMSBIB

JavaScript is disabled in your browser. Please switch it on to enable full functionality of the website

	Общая информация
	Последний выпуск
	Архив
	Импакт-фактор
	Правила для авторов
	Загрузить рукопись

	Поиск публикаций
	Поиск ссылок

	RSS
	Последний выпуск
	Текущие выпуски
	Архивные выпуски
	Что такое RSS

Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
	Найти

Персональный вход:
Логин:
Пароль:
	Запомнить пароль
	Войти
	Забыли пароль?
	Регистрация

Квантовая электроника, 2015, том 45, номер 3, страницы 270–274 (Mi qe16127)

Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Определение толщины нанопленки с помощью резонансных частот

А. Н. Латышев, А. А. Юшканов

Московский государственный областной университет

PDF полного текста (592 kB) Список цитирования (5)

Список литературы:

PDF

HTML

Аннотация: Теоретически исследовано взаимодействие монохроматического лазерного излучения с тонкой металлической пленкой. Получены зависимости коэффициентов прохождения, отражения и поглощения электромагнитной волны от угла падения, толщины слоя и эффективной частоты столкновений электронов. В области резонансных частот проведен анализ этих коэффициентов. Полученные формулы для коэффициентов прохождения, отражения и поглощения справедливы для любых углов падения. Рассмотрен случай зеркальных граничных условий. Выведена формула для бесконтактного вычисления толщины пленки по наблюдаемым резонансным частотам.

Ключевые слова: нанопленки, резонансные частоты, коэффициенты прохождения, отражения и поглощения электро-магнитной волны, толщина пленки.

Поступила в редакцию: 08.01.2014
Исправленный вариант: 10.11.2014

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2015, Volume 45, Issue 3, Pages 270–274
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2015v045n03ABEH015379

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья

PACS: 78.66.-w, 78.67.-n

Образец цитирования: А. Н. Латышев, А. А. Юшканов, “Определение толщины нанопленки с помощью резонансных частот”, Квантовая электроника, 45:3 (2015), 270–274 [Quantum Electron., 45:3 (2015), 270–274]

Образцы ссылок на эту страницу:

https://www.mathnet.ru/rus/qe16127

https://www.mathnet.ru/rus/qe/v45/i3/p270

Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:

Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles

Статистика просмотров:
Страница аннотации:	435
PDF полного текста:	481
Список литературы:	59
Первая страница:	14

Что такое QR-код?

Обратная связь:

Пользовательское соглашение

Регистрация посетителей портала

Логотипы