|
Квантовая электроника, 2014, том 44, номер 1, страницы 59–64
(Mi qe15292)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 15 научных статьях (всего в 15 статьях)
Рассеяние излучения
Низкокогерентная интерферометрия как метод оценки транспортных параметров случайно-неоднородных сред
Д. А. Зимняковab, Дж. С. Синаa, С. А. Ювченкоa, Е. А. Исаеваa, С. П. Чекмасовa, О. В. Ушаковаa a Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю. А.
b Институт проблем точной механики и управления РАН, г. Саратов
Аннотация:
Обсуждаются особенности применения низкокогерентного интерферометрического зондирования слоев случайно-неоднородных сред для определения транспортной длины распространения излучения как в диффузионном режиме, так и в случае оптически тонких слоев. Транспортная длина определяется по скорости экспоненциального спада интерференционного сигнала при увеличении разности хода световых пучков в опорном плече низкокогерентного интерферометра и в объектном плече, содержащем зондируемый слой в качестве диффузного отражателя. Представлены результаты экспериментальной проверки обсуждаемого подхода с использованием слоев плотноупакованных наночастиц двуокиси титана и политетрафторэтилена.
Ключевые слова:
рассеяние, низкокогерентная интерферометрия, дисперсные системы, транспортная длина, диффузионное приближение, моделирование методом Монте-Карло.
Поступила в редакцию: 31.07.2013 Исправленный вариант: 06.10.2013
Образец цитирования:
Д. А. Зимняков, Дж. С. Сина, С. А. Ювченко, Е. А. Исаева, С. П. Чекмасов, О. В. Ушакова, “Низкокогерентная интерферометрия как метод оценки транспортных параметров случайно-неоднородных сред”, Квантовая электроника, 44:1 (2014), 59–64 [Quantum Electron., 44:1 (2014), 59–64]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe15292 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v44/i1/p59
|
|