|
Квантовая электроника, 2013, том 43, номер 3, страницы 282–287
(Mi qe15136)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Экстремальные световые поля и их приложения
Фононная спектроскопия структуры оксидных кристаллокерамик
А. А. Каминскийa, А. В. Тарановb, Е. Н. Хазановb a Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, г. Москва
b Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, г. Москва
Аннотация:
Описан метод исследования особенностей структуры и фононного спектра оксидных поликристаллических керамик. Установлена связь величины коэффициента диффузии фононов с субтерагерцевыми частотами со свойствами системы межзеренных границ, размером и структурой зерен. Показано, что при гелиевых температурах зависимость коэффициента диффузии фононов от температуры определяется спектральными свойствами межзеренного слоя, что позволяет оценить средние по объему образца значения его толщины и акустического импеданса. Проанализировано влияние процессов пластической деформации двойникованием на формирование структуры зерен и межзеренных слоев, определяющих теплофизические, акустические и оптические характеристики керамического материала.
Ключевые слова:
оксидная керамика, фононы, межзеренная граница, двойникование.
Поступила в редакцию: 24.12.2012 Исправленный вариант: 06.02.2013
Образец цитирования:
А. А. Каминский, А. В. Таранов, Е. Н. Хазанов, “Фононная спектроскопия структуры оксидных кристаллокерамик”, Квантовая электроника, 43:3 (2013), 282–287 [Quantum Electron., 43:3 (2013), 282–287]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe15136 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v43/i3/p282
|
|