Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2012, том 42, номер 8, страницы 739–742 (Mi qe14849)  

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Измерение градиента показателя преломления по толщине диэлектрической пленки методом возбуждения волноводных мод

В. И. Соколов, В. Я. Панченко, В. Н. Семиногов

Институт проблем лазерных и информационных технологий РАН, г. Шатуpа Московской обл.
Список литературы:
Аннотация: Предложен метод измерения градиента показателя преломления $n(z)$ в неоднородных по толщине диэлектрических пленках. Метод основан на возбуждении волноводных мод в пленке с помощью призмы нарушенного полного внутреннего отражения и на расчете $n(z)$ и толщины $H_f$ пленки, исходя из угловых положений TE или TM мод. Он может использоваться при произвольной форме модуляции показателя преломления по толщине пленки в пределе слабого градиента $(\Delta n(z)/n(z)\ll 1)$.
Ключевые слова: диэлектрические пленки, волноводные моды, метод нарушенного полного внутреннего отражения.
Поступила в редакцию: 12.03.2012
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2012, Volume 42, Issue 8, Pages 739–742
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2012v042n08ABEH014849
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 42.82.-m, 77.55.+f, 42.82.Et
Образец цитирования: В. И. Соколов, В. Я. Панченко, В. Н. Семиногов, “Измерение градиента показателя преломления по толщине диэлектрической пленки методом возбуждения волноводных мод”, Квантовая электроника, 42:8 (2012), 739–742 [Quantum Electron., 42:8 (2012), 739–742]
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SokPanSem12}
\by В.~И.~Соколов, В.~Я.~Панченко, В.~Н.~Семиногов
\paper Измерение градиента показателя преломления по толщине диэлектрической пленки методом возбуждения волноводных мод
\jour Квантовая электроника
\yr 2012
\vol 42
\issue 8
\pages 739--742
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/qe14849}
\adsnasa{https://adsabs.harvard.edu/cgi-bin/bib_query?2012QuEle..42..739S}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=23452636}
\transl
\jour Quantum Electron.
\yr 2012
\vol 42
\issue 8
\pages 739--742
\crossref{https://doi.org/10.1070/QE2012v042n08ABEH014849}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000308474900014}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-84865763079}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe14849
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v42/i8/p739
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:249
    PDF полного текста:114
    Список литературы:43
    Первая страница:3
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024