Измерение параметров Стокса излучения полупроводниковых лазеров

Разработана и опробована оригинальная методика измерения параметров Стокса для полупроводниковых лазеров, основанная на привязке системы координат к исследуемому образцу. Предлагаемая методика при использовании в качестве компенсатора произвольной фазовой пластины позволяет измерять поляризационные характеристики лазеров, работающих в широком диапазоне длин волн — от 600 до 1000 нм. Применение фурье-анализа к квазинепрерывным экспериментальным данным, полученным с помощью автоматизированных систем сбора и обработки результатов измерений и ординарных оптических элементов, обеспечивает точность, достаточную для регистрации особенностей поляризационных характеристик современных лазерных диодов.