Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2010, том 40, номер 5, страницы 411–417 (Mi qe14319)  

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Рассеяние света, прохождение излучения через атмосферу

Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии

Е. А. Сергеева

Институт прикладной физики РАН, г. Нижний Новгород
Список литературы:
Аннотация: На основе теоретической модели распространения сфокусированного пучка света в сильно рассеивающей среде обсуждаются различные факторы, ограничивающие возможности двухфотонной флуоресцентной микроскопии (ДФМ) для наблюдения глубинной структуры оптически толстых образцов биологических тканей. Выделены три основные причины ограничения глубины наблюдения методом ДФМ: 1) размытие пучка в результате многократного малоуглового рассеяния, приводящее к потере субмикронного поперечного разрешения; 2) избыточная засветка приповерхностной области объекта, возникающая при наблюдении глубоко расположенных структур в результате увеличения средней мощности источника для компенсации потерь из-за рассеяния; 3) снижение уровня полезного сигнала двухфотонной флуоресценции из-за экспоненциального ослабления мощности накачки. Влияние указанных факторов было рассмотрено в рамках малоуглового диффузионного приближения теории переноса излучения. Показано, что первые два ограничения определяют фундаментальный предел ДФМ, в то время как последнее ограничение является инструментальным пределом и представляется наиболее критичным в современных коммерческих установках лазерной сканирующей микроскопии для подавляющего большинства используемых флуорофоров.
Поступила в редакцию: 26.02.2010
Исправленный вариант: 08.04.2010
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2010, Volume 40, Issue 5, Pages 411–417
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2010v040n05ABEH014319
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 42.25.Fx, 33.50.-j, 07.05.Pj


Образец цитирования: Е. А. Сергеева, “Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии”, Квантовая электроника, 40:5 (2010), 411–417 [Quantum Electron., 40:5 (2010), 411–417]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe14319
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v40/i5/p411
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:196
    PDF полного текста:78
    Список литературы:27
    Первая страница:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024