|
Квантовая электроника, 2010, том 40, номер 5, страницы 411–417
(Mi qe14319)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Рассеяние света, прохождение излучения через атмосферу
Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии
Е. А. Сергеева Институт прикладной физики РАН, г. Нижний Новгород
Аннотация:
На основе теоретической модели распространения сфокусированного пучка света в сильно рассеивающей среде обсуждаются различные факторы, ограничивающие возможности двухфотонной флуоресцентной микроскопии (ДФМ) для наблюдения глубинной структуры оптически толстых образцов биологических тканей. Выделены три основные причины ограничения глубины наблюдения методом ДФМ: 1) размытие пучка в результате многократного малоуглового рассеяния, приводящее к потере субмикронного поперечного разрешения; 2) избыточная засветка приповерхностной области объекта, возникающая при наблюдении глубоко расположенных структур в результате увеличения средней мощности источника для компенсации потерь из-за рассеяния; 3) снижение уровня полезного сигнала двухфотонной флуоресценции из-за экспоненциального ослабления мощности накачки. Влияние указанных факторов было рассмотрено в рамках малоуглового диффузионного приближения теории переноса излучения. Показано, что первые два ограничения определяют фундаментальный предел ДФМ, в то время как последнее ограничение является инструментальным пределом и представляется наиболее критичным в современных коммерческих установках лазерной сканирующей микроскопии для подавляющего большинства используемых флуорофоров.
Поступила в редакцию: 26.02.2010 Исправленный вариант: 08.04.2010
Образец цитирования:
Е. А. Сергеева, “Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии”, Квантовая электроника, 40:5 (2010), 411–417 [Quantum Electron., 40:5 (2010), 411–417]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe14319 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v40/i5/p411
|
|