|
Квантовая электроника, 2010, том 40, номер 7, страницы 652–658
(Mi qe14288)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 11 научных статьях (всего в 11 статьях)
Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники
Измерение поверхностного распределения длины волны узкополосного излучения колориметрическим методом
А. В. Крайский, Т. В. Миронова, Т. Т. Султанов Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва
Аннотация:
Предложен способ определения длины волны узкополосного светового излучения по цифровой фотографии излучающей поверхности. Используемая фотокамера должна быть определенным образом откалибрована. Точность определения длины волны лучше 1 нм. Проверка проведена на желтом дублете ртутного спектра и на примыкающем участке сплошного спектра излучения лампы накаливания. С помощью предложенного метода изучена степень однородности набухания голографических сенсоров как в стационарном состоянии, так и в динамике.
Поступила в редакцию: 29.01.2010 Исправленный вариант: 27.05.2010
Образец цитирования:
А. В. Крайский, Т. В. Миронова, Т. Т. Султанов, “Измерение поверхностного распределения длины волны узкополосного излучения колориметрическим методом”, Квантовая электроника, 40:7 (2010), 652–658 [Quantum Electron., 40:7 (2010), 652–658]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe14288 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v40/i7/p652
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 226 | PDF полного текста: | 150 | Список литературы: | 40 | Первая страница: | 1 |
|