Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2008, том 38, номер 12, страницы 1171–1178 (Mi qe13822)  

Эта публикация цитируется в 14 научных статьях (всего в 14 статьях)

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Измерение оптического поглощения пластин поликристаллического CVD-алмаза фазовым фототермическим методом на длине волны 10.6 мкм

А. Ю. Лукьяновa, В. Г. Ральченкоb, А. В. Хомичc, Е. В. Сердцевa, П. В. Волковa, А. В. Савельевb, В. И. Коновb

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва
c Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, г. Фрязино
Аннотация: Разработана высокочувствительная фототермическая методика для количественных измерений малого коэффициента оптического поглощения в тонких пластинах из высокопрозрачных материалов, объемные потери в которых существенно превышают поверхностные. На длине волны λ = 10.6 мкм измерен коэффициент объемного поглощения пластин поликристаллического алмаза, выращенных из газовой фазы (CVD-алмаза). Результаты сопоставлены с данными для природных и синтетических монокристаллов алмаза, а также с концентрацией примесей азота и водорода. Коэффициент поглощения лучших образцов CVD-алмаза не превышал 0.06 см-1. Это, учитывая высокую теплопроводность CVD-алмаза (1800 – 2200 Вт/мК при комнатной температуре), позволяет рассматривать его в качестве перспективного материала для выходных окон мощных СО2-лазеров, особенно при изготовлении крупногабаритной оптики.
Поступила в редакцию: 07.02.2008
Исправленный вариант: 04.04.2008
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2008, Volume 38, Issue 12, Pages 1171–1178
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2008v038n12ABEH013822
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 81.05.Uw, 81.70.Fy, 78.20.Nv, 78.20.Ci, 42.70.Hi, 42.25.Bs


Образец цитирования: А. Ю. Лукьянов, В. Г. Ральченко, А. В. Хомич, Е. В. Сердцев, П. В. Волков, А. В. Савельев, В. И. Конов, “Измерение оптического поглощения пластин поликристаллического CVD-алмаза фазовым фототермическим методом на длине волны 10.6 мкм”, Квантовая электроника, 38:12 (2008), 1171–1178 [Quantum Electron., 38:12 (2008), 1171–1178]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe13822
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v38/i12/p1171
  • Эта публикация цитируется в следующих 14 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:295
    PDF полного текста:202
    Первая страница:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024