|
Квантовая электроника, 2007, том 37, номер 6, страницы 590–594
(Mi qe13352)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Голографические методы измерений
Голографический интерференционный метод исследования остаточных напряжений
А. А. Апальковa, А. И. Ларкинa, А. В. Осинцевa, И. Н. Одинцевa, В. П. Щепиновa, А. Ю. Щикановa, Дж Фонтенb a Московский инженерно-физический институт (государственный университет)
b Institute National de Sciences Appliquees de Strasbourg, France
Аннотация:
Рассмотрена оригинальная методика определения остаточных напряжений, основанная на совместном применении методов голографической интерферометрии и зондирующего отверстия. В качестве первичной информации используется разность порядков интерференционных полос для пар точек поверхности тела, расположенных на направлениях главных напряжений. Представлены результаты тестового эксперимента по измерению напряжений в пластине, деформируемой в условиях чистого сдвига, и результаты измерения остаточных сварочных напряжений в двух образцах, сваренных с помощью лазера.
Поступила в редакцию: 27.09.2005 Исправленный вариант: 05.02.2007
Образец цитирования:
А. А. Апальков, А. И. Ларкин, А. В. Осинцев, И. Н. Одинцев, В. П. Щепинов, А. Ю. Щиканов, Дж Фонтен, “Голографический интерференционный метод исследования остаточных напряжений”, Квантовая электроника, 37:6 (2007), 590–594 [Quantum Electron., 37:6 (2007), 590–594]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe13352 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v37/i6/p590
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 222 | PDF полного текста: | 115 | Первая страница: | 1 |
|