Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1998, том 25, номер 9, страницы 838–842 (Mi qe1334)  

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Определение параметров микрообъекта по комплексному отклику дифференциального микроскопа

Д. В. Баранов, А. А. Егоров, Е. М. Золотов, К. К. Свидзинский

Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва
Аннотация: На основе анализа амплитуды и фазы комплексного отклика гетеродинного дифференциального микроскопа экспериментально продемонстрирована возможность определения параметров составного микрообъекта в виде комбинации ступеньки и канавки.
Поступила в редакцию: 16.09.1997
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 1998, Volume 28, Issue 9, Pages 817–820
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1998v028n09ABEH001334
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 07.60.Pb, 42.30.Va


Образец цитирования: Д. В. Баранов, А. А. Егоров, Е. М. Золотов, К. К. Свидзинский, “Определение параметров микрообъекта по комплексному отклику дифференциального микроскопа”, Квантовая электроника, 25:9 (1998), 838–842 [Quantum Electron., 28:9 (1998), 817–820]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe1334
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v25/i9/p838
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024