П. И. Хаджи, Л. Ю. Надькин, “О методе диагностики полупроводников при двухфотонном возбуждении биэкситонов”, Квантовая электроника, 36:5 (2006), 415–417 [Quantum Electron., 36:5 (2006), 415

Квантовая электроника

RUS ENG

ЖУРНАЛЫ ПЕРСОНАЛИИ ОРГАНИЗАЦИИ КОНФЕРЕНЦИИ СЕМИНАРЫ ВИДЕОТЕКА ПАКЕТ AMSBIB

JavaScript is disabled in your browser. Please switch it on to enable full functionality of the website

	Общая информация
	Последний выпуск
	Архив
	Импакт-фактор
	Правила для авторов
	Загрузить рукопись

	Поиск публикаций
	Поиск ссылок

	RSS
	Последний выпуск
	Текущие выпуски
	Архивные выпуски
	Что такое RSS

Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
	Найти

Персональный вход:
Логин:
Пароль:
	Запомнить пароль
	Войти
	Забыли пароль?
	Регистрация

Квантовая электроника, 2006, том 36, номер 5, страницы 415–417 (Mi qe13240)

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Нелинейно-оптические явления

О методе диагностики полупроводников при двухфотонном возбуждении биэкситонов

П. И. Хаджи^ab, Л. Ю. Надькин^b

^a Институт прикладной физики АН Молдовы, г. Кишинев
^b Приднестровский государственный университет им. Т. Г. Шевченко, г. Тирасполь

PDF полного текста (133 kB) Список цитирования (4)

Аннотация: Представлена версия однофотонного тестирования оптических свойств полупроводника в условиях, когда благодаря двухфотонному поглощению мощный импульс накачки возбуждает биэкситоны из основного состояния кристалла. Предсказана возможность существования лоренцоподобного пика поглощения и найден квазиполяритонный закон дисперсии в области, где отсутствует реальный энергетический уровень. Изучена временная эволюция полосы поглощения под действием ультракоротких импульсов.

Поступила в редакцию: 27.10.2005
Исправленный вариант: 10.03.2006

Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2006, Volume 36, Issue 5, Pages 415–417
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2006v036n05ABEH013240

Реферативные базы данных:

Тип публикации: Статья

PACS: 42.25.Bs, 42.65.An, 42.65.Vh, 78.20.Dj

Образец цитирования: П. И. Хаджи, Л. Ю. Надькин, “О методе диагностики полупроводников при двухфотонном возбуждении биэкситонов”, Квантовая электроника, 36:5 (2006), 415–417 [Quantum Electron., 36:5 (2006), 415–417]

Образцы ссылок на эту страницу:

https://www.mathnet.ru/rus/qe13240

https://www.mathnet.ru/rus/qe/v36/i5/p415

Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:

Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles

Что такое QR-код?

Обратная связь:

Пользовательское соглашение

Регистрация посетителей портала

Логотипы