Временное сверхразрешение при спектрально-временных измерениях характеристик коротких световых сигналов

Предложен новый метод измерения характеристик коротких оптических сигналов, основанный на совместном использовании спектрального разложения и временной развертки ЭОК и применении специального математического алгоритма для восстановления исходного сигнала. Возможности метода проиллюстрированы на примерах с помощью компьютерного моделирования. Оценена зависимость результатов восстановления от шумов, присутствующих в измеренных данных. Показано, что временное разрешение метода может на один-два порядка превышать собственное разрешение электронно-оптической аппаратуры.