Некоторые характеристики светочувствительных систем полупроводник – металл и голографических дифракционных решеток, полученных на их основе

Приведены результаты исследований некоторых характеристик (спектрального распределения светочувствительности, зависимости дифракционной эффективности от экспозиции и пространственной частоты) светочувствительных систем полупроводник – металл, включающих в свой состав Ag, As, S и Se. Рассмотрены некоторые свойства голографических дифракционных решеток, полученных на основе этих систем, нанесенных на плоские и сферические подложки. Показано, что с помощью светочувствительных систем полупроводник – металл можно получать дифракционные решетки, обладающие высоким разрешением, малыми аберрациями и низким светорассеянием.