Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1982, том 9, номер 4, страницы 718–725 (Mi qe12219)  

Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения

В. А. Епишин, М. В. Неофитный

Харьковский государственный университет им. А. М. Горького
Аннотация: С целью применения дифракционных структур для измерения характеристик лазерного излучения проведено исследование дифракции этого излучения на редких проволочных решетках, включая случаи непериодического расположения проводников. Теоретическое рассмотрение выполнено в приближении однократного рассеяния падающего излучения дифракционно не взаимодействующими элементами редких решеток. Подробно изучена дифракция Френеля, при которой обнаружено новое свойство – отображение при определенных параметрах решеток диаграммы направленности падающего пучка, что позволяет упростить существующие схемы измерения характеристик излучения и увеличить диапазон измеряемых величин. Показано, что неэквидистантная решетка, обладающая указанным свойством, вносит меньше искажений в прошедший пучок при дифракции Френеля, чем периодическая. Исследована поляризационная зависимость рассеянного поля, позволяющая применять данные ответвители для определения направления поляризации.
Поступила в редакцию: 19.06.1981
Англоязычная версия:
Soviet Journal of Quantum Electronics, 1982, Volume 12, Issue 4, Pages 443–447
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1982v012n04ABEH012219
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 535.853.31:621.373.826
PACS: 42.60.He, 42.80.Fn


Образец цитирования: В. А. Епишин, М. В. Неофитный, “Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения”, Квантовая электроника, 9:4 (1982), 718–725 [Sov J Quantum Electron, 12:4 (1982), 443–447]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe12219
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v9/i4/p718
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024