К теории параметрического рассеяния и метода абсолютного измерения яркости света

Исследуется возможность абсолютного измерения спектральной яркости света по отношению сигнал – шум M параметрического преобразователя частоты при отражении и поглощении в нелинейном кристалле. Используется модель плоскопараллельного слоя и заданной монохроматической накачки с частотой ω₀. Определяются формулы, описываюшие прохождение и отражение волн с частотами ω₁ и ω₂ = ω₀–ω₁ в слое. Найденная четырехмерная матрица рассеяния определяет согласно «нелинейному» закону Кирхгофа квантовые шумы преобразователя. Показано, что число фотонов на моду N в падающем свете равно M, умноженному на близкий к единице поправочный коэффициент, зависящий от коэффициентов поглощения и преломления.