Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 1976, том 3, номер 10, страницы 2127–2134 (Mi qe11904)  

Анализ влияния статистических характеристик процесса регистрации голограмм на качество восстанавливаемых изображений

Ю. В. Заворуев, И. Н. Троицкий
Аннотация: В предположении пуассоновской статистики регистрации голограмм исследуются среднее значение и среднеквадратичное отклонение распределения интенсивности в восстановленных изображениях. Выводятся математические выражения, позволяющие связать искажения, вносимые, с одной стороны, дискретизацией голограмм и квантованием их интенсивности, а с другой – статистическими характеристиками регистрирующего светочувствительного экрана.
Поступила в редакцию: 20.10.1975
Англоязычная версия:
Soviet Journal of Quantum Electronics, 1976, Volume 6, Issue 10, Pages 1157–1161
DOI: https://doi.org/10.1070/QE1976v006n10ABEH011904
Тип публикации: Статья
УДК: 535.41
PACS: 42.40.Fr, 42.40.Ht


Образец цитирования: Ю. В. Заворуев, И. Н. Троицкий, “Анализ влияния статистических характеристик процесса регистрации голограмм на качество восстанавливаемых изображений”, Квантовая электроника, 3:10 (1976), 2127–2134 [Sov J Quantum Electron, 6:10 (1976), 1157–1161]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe11904
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v3/i10/p2127
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:111
    PDF полного текста:61
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024