|
Квантовая электроника, 1976, том 3, номер 8, страницы 1814–1816
(Mi qe11804)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Краткие сообщения
Мера дефектности поверхности и оптическая прочность прозрачных диэлектриков
А. С. Бебчук, Д. А. Громов, В. С. Нечитайло
Аннотация:
Исследовано влияние дефектов поверхности прозрачных диэлектриков на их оптическую прочность с помощью искусственно введенных поглощающих включений. Показано, что оптическая прочность поверхности определяется в основном не ее рельефом, а наличием дефектного приповерхностного слоя. Установлено, что в пластичных материалах, в отличие от хрупких, мера дефектности поверхности, определяемая как отношение объемной прочности к поверхностной, меньше единицы.
Поступила в редакцию: 19.12.1975
Образец цитирования:
А. С. Бебчук, Д. А. Громов, В. С. Нечитайло, “Мера дефектности поверхности и оптическая прочность прозрачных диэлектриков”, Квантовая электроника, 3:8 (1976), 1814–1816 [Sov J Quantum Electron, 6:8 (1976), 986–987]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe11804 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v3/i8/p1814
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 144 | PDF полного текста: | 115 |
|