Теоретический анализ условий теплового взрыва и фотоионизационная неустойчивость прозрачных диэлектриков с поглощающими включениями

Анализируются условия теплового взрыва (ТВ) поглощающего включения под действием лазерного излучения. Введено понятие пороговой функции, экстремумы которой определяют пороговые температуру и интенсивность ТВ включения. Обсуждается двухпороговая модель разрушения прозрачного диэлектрика. Показано, что фотоионизация матрицы диэлектрика тепловым излучением нагретого включения приводит к ТВ в его окрестности. Определено время развития ТВ, и обсуждается экспериментальный метод его определения. Приводятся численные оценки пороговой интенсивности фотоионизационного ТВ и времени его развития.