О спектроскопии сверхвысокого разрешения с помощью кольцевого лазера

Предложен метод определения частотного расстояния между двумя компонентами тонкой структуры линий и их относительных интенсивностей. Используется зависимость ширины области одноволновой генерации от расстояния по частоте между компонентами линии и отношения их интенсивностей. Разрешение метода меньше однородной ширины линии, точность – несколько процентов от измеряемой величины.