Спектральное преобразование оптического излучения на тонкой магнитной пленке

Предложен метод регистрации пространственно-временных характеристик оптического излучения с использованием тонкой магнитной пленки, просвечиваемой поляризованным излучением видимого диапазона, и с регистрацией прошедшего через нее и анализатор излучения приемником излучения видимого диапазона. Анализ, проведенный для пленок MnBi, показал, что имеет место увеличение чувствительности и числа разрешимых градаций. Экспериментальная проверка подтвердила полученные выводы.