| Квантовая электроника |
|
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях) Дифракционный метод измерения показателя преломления на поверхности материала А. А. Зленко, В. Н. Сороковиков, В. А. Сычугов, Г. П. Шипуло Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва
Англоязычная версия:
Soviet Journal of Quantum Electronics, 1978, Volume 8, Issue 6, Pages DOI: https://doi.org/10.1070/QE1978v008n06ABEH010391 
Образец цитирования: А. А. Зленко, В. Н. Сороковиков, В. А. Сычугов, Г. П. Шипуло, “Дифракционный метод измерения показателя преломления на поверхности материала”, Квантовая электроника, 5:6 (1978), |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Обратная связь: |
Пользовательское соглашение
|
Регистрация посетителей портала |
Логотипы |
|