Методы исследования роли поглощающих микровключений в разрушении прозрачных диэлектриков лазерным излучением. I. Пассивные методы

Рассматриваются методы исследования поглощающих включений размером $d_i\lesssim3\times10^{-5}$ см в прозрачных диэлектриках. На основе исследования рассеяния света микровключениями предложен количественный критерий дискриминации включений по размерам. Разработан и экспериментально обоснован ультрамикроскопический метод измерения функции распределения включений диаметра $d_i\sim10^{-6}-3\cdot10^{-5}$ см в объеме прозрачного диэлектрика по размерам. Предложенный в работе метод применен к промышленным стеклам К8, ТФ5 и ликвирующему стеклу Na-7-B-23. Показано, что все эти стекла имеют неоднородности размера $d_i\sim 10^{-6} -10^{-5}$ см (с концентрацией $\lesssim10^{11}$ см$^{-3}$), тогда как концентрация неоднородностей размера $d_i\gtrsim3\cdot10^{-5}$ см не превышает величины $3\cdot10^{-6}$ см$^{-3}$. Построены функции распределения включений в этих стеклах по размерам.