|
Квантовая электроника, 1980, том 7, номер 11, страницы 2362–2366
(Mi qe10315)
|
|
|
|
Влияние изменения толщины волновода на эффективность брэгговской дифракции излучения на решетчатых структурах
Ю. А. Быковский, В. Л. Смирнов, В. Н. Сороковников Московский инженерно-физический институт
Аннотация:
Изучены влияние толщины волновода на эффективность брэгговской дифракции и возможность создания на этой основе высокочувствительных датчиков малых перемещений и тензодатчиков. Показано, что отклонение толщины волновода на 1,8 нм от его первоначального значения 1,1 мкм вызывает 10%-ную модуляцию излучения.
Поступила в редакцию: 12.03.1980
Образец цитирования:
Ю. А. Быковский, В. Л. Смирнов, В. Н. Сороковников, “Влияние изменения толщины волновода на эффективность брэгговской дифракции излучения на решетчатых структурах”, Квантовая электроника, 7:11 (1980), 2362–2366 [Sov J Quantum Electron, 10:11 (1980), 1376–1378]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe10315 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v7/i11/p2362
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 98 | PDF полного текста: | 64 |
|