“Двойная” частотная селекция в лазерах при помощи отражающего интерферометра с анизотропным заполнением

Предложен новый внутрирезонаторный частотно-селективный элемент высокого разрешения в виде отражающего интерферометра с тонкослойным селектором (поглощающая пленка, дифракционная структура); внутри интерферометра находится анизотропный диэлектрик. Этот элемент устанавливается взамен зеркала резонатора. Принцип работы основан на совместном влиянии поглощения в пленке и разности оптических длин интерферометра для обыкновенной и необыкновенной волн. Проведенный анализ показывает, что достигаемая избирательность сравнима с той, которая получается при одновременном использовании двух изотропных интерференционных уст­ройств. Отмечается преимущество предлагаемого элемента в избирательности по сравнению с традиционно используемым сочетанием интерферометра высокого разрешения и фильтра Лио. Приводятся результаты экспериментального исследования отражающего интерферометра, содержащего двулучепреломляющую пластину из кварца на длине волны 0,63 мкм.