|
Квантовая электроника, 1997, том 24, номер 8, страницы 754–758
(Mi qe1023)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 17 научных статьях (всего в 17 статьях)
Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники
Измерения субмикронных структур на лазерном фазовом микроскопе «Эйрискан»
В. П. Тычинский, Г. Э. Куфаль, Т. В. Вышенская, Е. В. Переведенцева, С. Л. Никандров Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики
Аннотация:
На лазерном фазовом микроскопе с обычной оптической системой получены изображения сфер латекса диаметром 100 нм, различных вирусов и других микрообъектов. Показана необходимость для получения адекватных изображений точной фокусировки (~30 нм) и большой числовой апертуры объектива. Обсуждаются специфические свойства субволновых фазовых изображений и характерные артефакты в изображениях субмикронных структур.
Поступила в редакцию: 28.10.1996
Образец цитирования:
В. П. Тычинский, Г. Э. Куфаль, Т. В. Вышенская, Е. В. Переведенцева, С. Л. Никандров, “Измерения субмикронных структур на лазерном фазовом микроскопе «Эйрискан»”, Квантовая электроника, 24:8 (1997), 754–758 [Quantum Electron., 27:8 (1997), 735–739]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe1023 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v24/i8/p754
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 226 | PDF полного текста: | 117 |
|