Измерение коэффициента электронной нелинейности оптического и лазерного стекла

Методика прямого наблюдения самофокусировки гладких наносекундных импульсов одномодового лазера используется для определения коэффициента электронной нелинейности n₂ прозрачных диэлектриков. Критическая мощность самофокусировки стекла данной марки P_кр находится по серии измерений пороговой мощности P_п для различных эффективных длин образца L_эф = z_сф, что исключает ошибки, связанные с определением ширины пучка. Необходимый набор z_сф получается при различной степени фокусировки или дефокусировки излучения на входе в один и тот же образец. Экспериментальная зависимость P_п^1/2 (z_сф^–1), позволяющая определить P_кр по отсечке на оси ординат, линейна лишь до некоторой величины P, выше которой регулярный характер картины самофокусировки нарушается из-за развития поперечных возмущений. В работе получены данные о P_кр и n₂ для нескольких марок отечественных стекол (КГСС 1621, ГЛС 1, ЛГС 247).