|
Квантовая электроника, 1978, том 5, номер 3, страницы 695–698
(Mi qe10043)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Краткие сообщения
Материальная дисперсия в стеклянных волоконных световодах на основе кварцевого стекла
А. В. Беловab, А. Н. Гурьяновab, Е. М. Диановab, В. М. Машинскийab, В. Б. Неуструевab, А. В. Николайчикab, А. С. Юшинab a Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва
b Институт химии АН СССР, Горький
Аннотация:
В диапазоне 0,8–2,6 мкм исследована дисперсия показателя преломления n (λ) в сердцевине (GeO2 + SiO2) и оболочке (SiO2) двухслойной заготовки
стеклянного волоконного световода (СВС), а также в кварцевых стеклах КВ,
КСГ и КВ70 (безводном). Вычислены спектральные распределения материальной дисперсии (λ /c)(d 2n /dλ 2) и числовой апертуры световодного слоя. Установлено, что нулевая материальная дисперсия в разных образцах чистого SiO2 лежит в пределах 1,26–1,30 мкм, а в GeO2 + SiO2 – при 1,32 мкм. При использовании метода ближнего поля измерено спектральное распределение числовой апертуры СВС, вытянутого из исследованной заготовки, и показано, что материальная дисперсия в СВС и в заготовке одинакова в пределах точности измерений. В области 1,6 мкм, где полные потери в данном образце СВС составляют менее 1 дБ/км, материальная дисперсия равна 24 пс/(нм·км).
Поступила в редакцию: 20.10.1977
Образец цитирования:
А. В. Белов, А. Н. Гурьянов, Е. М. Дианов, В. М. Машинский, В. Б. Неуструев, А. В. Николайчик, А. С. Юшин, “Материальная дисперсия в стеклянных волоконных световодах на основе кварцевого стекла”, Квантовая электроника, 5:3 (1978), 695–698 [Sov J Quantum Electron, 8:3 (1978), 410–412]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe10043 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v5/i3/p695
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 430 | PDF полного текста: | 113 |
|