|
Информационные технологии в управлении
Формализованные модели и методы анализа и оценки полноты патентных информационных фондов (на примере международной патентной организации)
В. О. Сиротюк Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН, г. Москва
Аннотация:
Сформулированы требования к структуре и полноте патентного информационного фонда. Дано определение показателя полноты фонда и предложены формализованные модели и методы ее анализа и оценки. Полученные результаты применены для оценки полноты и совершенствования баз данных патентного информационного фонда международной патентной организации — Евразийского патентного ведомства.
Ключевые слова:
патентный информационный фонд, патентный поиск международного типа, базы данных патентной и непатентной информации, тематическая база данных, показатель полноты патентного информационного фонда, эталонная база данных патентной и непатентной информации.
Образец цитирования:
В. О. Сиротюк, “Формализованные модели и методы анализа и оценки полноты патентных информационных фондов (на примере международной патентной организации)”, Пробл. управл., 2018, № 6, 35–43
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pu1110 https://www.mathnet.ru/rus/pu/v6/p35
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 114 | PDF полного текста: | 35 | Список литературы: | 25 |
|