Напряженное состояние в окрестности наклонного эллиптического дефекта и коэффициенты интенсивности напряжений при двухосном нагружении пластины

Рассматривается задача определения напряженного состояния пластины с наклонным эллиптическим вырезом при двухосном нагружении. Методом Колосова–Мусхелишвили получено выражение для напряжений вблизи вершины наклонного эллипса, из которого в частном случае получаются выражения для напряжений в случае наклонной трещины. Методом голографической интерферометрии экспериментально определены коэффициенты интенсивности напряжений $K_{\mathrm{I}}$ и $K_{\mathrm{II}}$ в случае растяжения пластины с наклонным трещиноподобным дефектом. Проведено сравнение результатов расчетов с экспериментальными данными.