Метод определения флексоэлектрических коэффициентов нематического жидкого кристалла

Предложен метод определения флексоэлектрических коэффициентов нематического жидкого кристалла. Для этого вначале необходимо пронаблюдать флексоэлектрические домены с помощью поляризационно-оптического микроскопа (электрооптический метод). Затем получить их оцифрованные изображения и определить оптический контраст $K$ полученных изображений. Линейный фиттинг зависимости контраста $K$ от приложенного напряжения $U$ вблизи порога позволяет достаточно точно определить критическое напряжение $U_c$ образования пространственно-периодической структуры. Пространственный период наблюдаемых структур определялся при помощи двумерного Фурье-преобразования оцифрованных изображений. Используя материальные параметры нематического жидкого кристалла в линейном анализе устойчивости основного состояния, а в качестве параметра фиттинга разность флексоэлектрических коэффициентов ($e_1-e_3$), вычисляются пороговые характеристики (критическое напряжение и характерный пространственный период) флексоэлектрических доменов близкие к экспериментальным. Выбранная таким образом разность флексо- коэффициентов принимается за искомый результат.