|
Письма в Журнал технической физики, 1987, том 13, выпуск 20, страницы 1230–1235
(Mi pjtf654)
|
|
|
|
Использование методов эллипсометрии и ВКБ для определения оптического профиля волноводных слоев
И. А. Xрамцовский, А. В. Мишин, В. И. Пшеницын
Поступила в редакцию: 30.07.1987
Образец цитирования:
И. А. Xрамцовский, А. В. Мишин, В. И. Пшеницын, “Использование методов эллипсометрии и ВКБ для определения оптического профиля волноводных слоев”, Письма в ЖТФ, 13:20 (1987), 1230–1235
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf654 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v13/i20/p1230
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 60 | PDF полного текста: | 23 |
|