|
Письма в Журнал технической физики, 2016, том 42, выпуск 5, страницы 81–88
(Mi pjtf6492)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Влияние температурной нестабильности на пороговую чувствительность фотоприемных устройств на основе фотодиодов A$^{3}$B$^{5}$
С. Е. Александров, Г. А. Гаврилов, А. А. Капралов, Г. Ю. Сотникова Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Представлен анализ зависимости чувствительности фотоприемных устройств (ФПУ) на основе фотодиодов A$^{3}$B$^{5}$ от случайных изменений температуры его элементов. Показано, что температурный дрейф уровня смещения во входных цепях операционных усилителей вносит существенный вклад в результирующие шумы ФПУ вплоть до частот порядка 1 MHz. Для достижения предельных значений чувствительности сенсоров необходимо стабилизировать температуру не только чипа фотодиода, но и микросхемы первого каскада усилителя. Для большинства применений требуемая точность стабилизации не превышает $\pm$ 0.1$^\circ$C. Результатом анализа явилась разработка макетов высокочувствительных средневолновых сенсоров (2–5 $\mu$m), работающих без принудительного охлаждения, с порогом детектирования десятки nW при полосе детектирования от 0 до 1 MHz.
Поступила в редакцию: 17.02.2015
Образец цитирования:
С. Е. Александров, Г. А. Гаврилов, А. А. Капралов, Г. Ю. Сотникова, “Влияние температурной нестабильности на пороговую чувствительность фотоприемных устройств на основе фотодиодов A$^{3}$B$^{5}$”, Письма в ЖТФ, 42:5 (2016), 81–88; Tech. Phys. Lett., 42:3 (2016), 263–266
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6492 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v42/i5/p81
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 38 | PDF полного текста: | 15 |
|