|
Письма в Журнал технической физики, 2016, том 42, выпуск 8, страницы 78–85
(Mi pjtf6447)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Исследование молекулярного пучка Se электронной ионизацией
А. Н. Завилопуло, О. Б. Шпеник, М. И. Микита, А. М. Мылымко Институт электронной физики НАН Украины, Ужгород, Украина
Аннотация:
Описаны методика и результаты масс-спектрометрических исследований выхода положительных ионов, образованных в результате диссоциативной ионизации молекулярного пучка селена электронной ионизацией. Из кривых эффективности ионизации получены энергии появления фрагментных ионов. Исследована динамика образования молекулярных ионов селена в интервале температур 420–495 K. Проанализированы энергетические зависимости эффективности образования однозарядных Sе$_{n}^{+}$ для $n$ = 1–3 и двухзарядного ионов селена.
Поступила в редакцию: 04.08.2015
Образец цитирования:
А. Н. Завилопуло, О. Б. Шпеник, М. И. Микита, А. М. Мылымко, “Исследование молекулярного пучка Se электронной ионизацией”, Письма в ЖТФ, 42:8 (2016), 78–85; Tech. Phys. Lett., 42:4 (2016), 427–430
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6447 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v42/i8/p78
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 48 | PDF полного текста: | 15 |
|