Дефектная мода в низкоразмерном волноводном СВЧ фотонном кристалле

Показано, что в низкоразмерном волноводном фотонном кристалле, в котором в качестве образующих его периодически расположенных элементов структуры используются диэлектрические слои и прилегающие к ним тонкие металлические пластины, частично перекрывающие сечение волновода и образующие емкостный зазор между пластиной и широкой стенкой волновода, нарушение периодичности приводит к появлению дефектной (примесной) моды. Установлено, что положение дефектной моды по шкале частот существенным образом зависит не только от толщины “нарушенного” диэлектрического слоя, но и от величины емкостного зазора диафрагм.