|
Письма в Журнал технической физики, 2016, том 42, выпуск 13, страницы 18–25
(Mi pjtf6368)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Полевой эффект при протонной и электронно-дырочной проводимости в транзисторе на основе оксида графена
В. А. Смирновa, А. Д. Мокрушинb, В. П. Васильевa, Н. Н. Денисовa, К. Н. Денисоваc a Институт проблем химической физики РАН, г. Черноголовка Московской обл.
b Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
c Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
Аннотация:
В пленках оксида графена можно наблюдать протонную (влажная атмосфера) и электронную (восстановленный оксид графена) проводимости. В транзисторе на основе оксида графена обнаружен и исследован полевой эффект при различных видах проводимости.
Поступила в редакцию: 08.02.2016
Образец цитирования:
В. А. Смирнов, А. Д. Мокрушин, В. П. Васильев, Н. Н. Денисов, К. Н. Денисова, “Полевой эффект при протонной и электронно-дырочной проводимости в транзисторе на основе оксида графена”, Письма в ЖТФ, 42:13 (2016), 18–25; Tech. Phys. Lett., 42:7 (2016), 671–673
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6368 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v42/i13/p18
|
|