|
Письма в Журнал технической физики, 2016, том 42, выпуск 16, страницы 34–40
(Mi pjtf6326)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 12 научных статьях (всего в 12 статьях)
Повышение дифракционной эффективности решеток-эшелеттов за счет полировки поверхности штриха ионно-пучковым травлением
М. В. Зоринаa, С. Ю. Зуевa, М. С. Михайленкоa, А. Е. Пестовa, В. Н. Полковниковab, Н. Н. Салащенкоa, Н. И. Чхалоa a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
Аннотация:
Показана возможность повышения эффективности первого порядка дифракции (до 10 раз) дифракционных решеток-эшелеттов из стекла Ф1 в мягком рентгеновском и экстремальном ультрафиолетовом диапазонах длин волн за счет полировки поверхности штриха нейтрализованными ионами Ar с энергией 1250 eV. Обработка осуществляется при нормальном падении ионов на поверхность образца и съеме материала на уровне 80–300 nm. Предложен принцип оптимизации параметров процесса ионно-пучкового травления для решения конкретных задач по планаризации микроструктур с различными латеральными размерами.
Поступила в редакцию: 14.04.2016
Образец цитирования:
М. В. Зорина, С. Ю. Зуев, М. С. Михайленко, А. Е. Пестов, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, “Повышение дифракционной эффективности решеток-эшелеттов за счет полировки поверхности штриха ионно-пучковым травлением”, Письма в ЖТФ, 42:16 (2016), 34–40; Tech. Phys. Lett., 42:8 (2016), 844–847
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6326 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v42/i16/p34
|
|