|
Письма в Журнал технической физики, 2016, том 42, выпуск 22, страницы 1–8
(Mi pjtf6253)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Влияние трансформации точечных дефектов при джоулевом разогреве на эффективность светодиодов с квантовыми ямами InGaN/GaN
Н. И. Бочкареваa, А. М. Ивановa, А. В. Клочковa, В. А. Таралаb, Ю. Г. Шретерa a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Северо-Кавказский федеральный университет, Ставрополь
Аннотация:
Показано, что кратковременный джоулев разогрев активной области светодиодов с квантовыми ямами InGaN/GaN до 125$^\circ$C при плотности тока 150 A/cm$^{2}$ стимулирует изменение энергетического спектра дефектных состояний в запрещенной зоне GaN и увеличение квантовой эффективности.
Поступила в редакцию: 19.04.2016
Образец цитирования:
Н. И. Бочкарева, А. М. Иванов, А. В. Клочков, В. А. Тарала, Ю. Г. Шретер, “Влияние трансформации точечных дефектов при джоулевом разогреве на эффективность светодиодов с квантовыми ямами InGaN/GaN”, Письма в ЖТФ, 42:22 (2016), 1–8; Tech. Phys. Lett., 42:11 (2016), 1099–1102
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6253 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v42/i22/p1
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 19 | PDF полного текста: | 8 |
|