|
Полевая электронная микроскопия науглероженного рения
Д. П. Бернацкий, В. Г. Павлов Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Методами полевой электронной микроскопии исследован рост углеродных структур на поверхности рениевого полевого эмиттера. Образование графена происходит на плотноупакованных гранях кристалла рения и приводит к снижению работы выхода. Для образования графеновых островков на рении требуется значительно большее время экспозиции в парах бензола, чем на иридии. Нагрев науглероженного рениевого полевого эмиттера до температур, близких к температуре плавления, с последующим снижением температуры не приводит к изменению работы выхода и полевого электронного изображения. Выявленные особенности объясняются высокой растворимостью углерода в рении.
Поступила в редакцию: 15.02.2017
Образец цитирования:
Д. П. Бернацкий, В. Г. Павлов, “Полевая электронная микроскопия науглероженного рения”, Письма в ЖТФ, 43:12 (2017), 104–110; Tech. Phys. Lett., 43:6 (2017), 590–592
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6205 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v43/i12/p104
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 41 | PDF полного текста: | 10 |
|