Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2017, том 43, выпуск 20, страницы 3–11
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2017.20.45144.16896 (Mi pjtf6091) 		 
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Исследование влияния случайных флуктуаций концентрации легирующей примеси на ток в полупроводниковых сверхрешетках

А. Сельскийab, А. А. Короновскийa, О. И. Москаленкоa, А. Е. Храмовb

a Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского
b Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю. А.
PDF полного текста (235 kB) Список цитирования (1)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2017.20.45144.16896
Аннотация: Исследуется, как случайные флуктуации концентрации легирующей примеси влияют на вольт-амперные характеристики тока, протекающего через полупроводниковую сверхрешетку. Показано, что в зависимости от амплитуды флуктуаций параметров наноструктуры характеристики тока, протекающего через сверхрешетку, заметно изменяются. По малой выборке удалось найти закон распределения плотности вероятности значений интеграла модуля разности токов при различных значениях амплитуды флуктуаций концентрации легирующей примеси.
Поступила в редакцию: 01.06.2017
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2017, Volume 43, Issue 10, Pages 912–915
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378501710025X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. Сельский, А. А. Короновский, О. И. Москаленко, А. Е. Храмов, “Исследование влияния случайных флуктуаций концентрации легирующей примеси на ток в полупроводниковых сверхрешетках”, Письма в ЖТФ, 43:20 (2017), 3–11; Tech. Phys. Lett., 43:10 (2017), 912–915
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SelKorMos17}
\by А.~Сельский, А.~А.~Короновский, О.~И.~Москаленко, А.~Е.~Храмов
\paper Исследование влияния случайных флуктуаций концентрации легирующей примеси на ток в полупроводниковых сверхрешетках
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2017
\vol 43
\issue 20
\pages 3--11
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf6091}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2017.20.45144.16896}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=30060578}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2017
\vol 43
\issue 10
\pages 912--915
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378501710025X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6091
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v43/i20/p3
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:36
    PDF полного текста:12
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024