Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал технической физики, 2017, том 43, выпуск 3, страницы 3–11
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2017.03.44221.16301
(Mi pjtf5998)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Распределение температуры в образце с микроскопическим включением второй фазы при облучении низкоэнергетическим импульсным сильноточным электронным пучком

Д. А. Шепель, А. Б. Марков

Институт сильноточной электроники СО РАН, г. Томск
Аннотация: С помощью методов численного моделирования рассчитано температурное поле, возникающее в поверхностном слое мишени из никелида титана, содержащей включения интерметаллида NiTi$_{2}$, облучаемой низкоэнергетическим сильноточным электронным пучком микросекундной длительности. Полученное температурное поле сравнивалось с температурным полем, рассчитанным ранее для мишени из нержавеющей стали 316L, содержащей включение из сульфида марганца (MnS). Обнаружено, что, как и в случае с нержавеющей сталью, в области расположения включения существует перегрев. Однако величина перегрева в случае никелида титана (12 K) существенно ниже, чем в случае нержавеющей стали 316L (283 K). Также существенно отличается динамика плавления двух систем.
Поступила в редакцию: 19.04.2016
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2017, Volume 43, Issue 2, Pages 139–142
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785017020110
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Д. А. Шепель, А. Б. Марков, “Распределение температуры в образце с микроскопическим включением второй фазы при облучении низкоэнергетическим импульсным сильноточным электронным пучком”, Письма в ЖТФ, 43:3 (2017), 3–11; Tech. Phys. Lett., 43:2 (2017), 139–142
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SheMar17}
\by Д.~А.~Шепель, А.~Б.~Марков
\paper Распределение температуры в образце с микроскопическим включением второй фазы при облучении низкоэнергетическим импульсным сильноточным электронным пучком
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2017
\vol 43
\issue 3
\pages 3--11
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5998}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2017.03.44221.16301}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=28968736}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2017
\vol 43
\issue 2
\pages 139--142
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785017020110}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5998
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v43/i3/p3
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:37
    PDF полного текста:7
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024