Атомно-силовая микроскопия устройства поверхностных слоев интактных фибробластов

Интактные фибробласты, находящиеся на обработанной коллагеном подложке, исследованы с помощью атомно-силового микроскопа с использованием двух типов зондов: стандартных, с радиусом закругления кончика 2–10 nm, и специальных, с закрепленным на кончике SiO$_{2}$ шариком калиброванного радиуса 325 nm. Установлено, что независимо от выбранного типа зонда средняя максимальная высота фибробласта оказывается на уровне $\approx$1.7 $\mu$m, а средняя жесткость контакта зонда с клеткой составляет $\approx$16.5 mN/m. Результат проявляет особенность устройства фибробласта, заключающуюся в том, что по отношению к внутреннему содержимому клетки ее внешние слои ведут себя как жесткая оболочка, которая продавливается зондом на глубину, зависящую только от величины нагрузки.