Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2018, том 44, выпуск 9, страницы 81–87
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.09.46069.17207 (Mi pjtf5822) 		 
Нейросетевой метод прогнозирования образования дефектов на поверхности тонких пленок ITO при механических нагрузках

Д. А. Кириенко, О. Я. Березина

Петрозаводский государственный университет
PDF полного текста (90 kB)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.09.46069.17207
Аннотация: Предлагается метод определения числа дефектов, возникающих под воздействием сжимающих и растягивающих напряжений при изгибе тонких прозрачных проводящих покрытий на полимерных подложках. Алгоритм определения основан на использовании математических методов искусственных нейронных сетей. Сеть натренирована на расчет средней плотности дефектов на единицу длины при входных параметрах, соответствующих размерам пленки и подложки, поверхностному сопротивлению проводящего покрытия и радиусу изгиба. Применение метода позволяет определить среднюю плотность дефектов с высокой точностью.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 16-32-60090
Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект № 16-32-60090).
Поступила в редакцию: 11.01.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2018, Volume 44, Issue 5, Pages 401–403
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785018050073
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Д. А. Кириенко, О. Я. Березина, “Нейросетевой метод прогнозирования образования дефектов на поверхности тонких пленок ITO при механических нагрузках”, Письма в ЖТФ, 44:9 (2018), 81–87; Tech. Phys. Lett., 44:5 (2018), 401–403
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KirBer18}
\by Д.~А.~Кириенко, О.~Я.~Березина
\paper Нейросетевой метод прогнозирования образования дефектов на поверхности тонких пленок ITO при механических нагрузках
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2018
\vol 44
\issue 9
\pages 81--87
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5822}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.09.46069.17207}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=32740280}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2018
\vol 44
\issue 5
\pages 401--403
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785018050073}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5822
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v44/i9/p81
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024