Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2018, том 44, выпуск 13, страницы 88–95
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.13.46332.17304 (Mi pjtf5768) 		 
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO$_{2}$/Si(001)

В. В. Балашевab, К. С. Ермаковb, Л. А. Чеботкевичb, В. В. Коробцовab

a Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, г. Владивосток
b Школа естественных наук, Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток
PDF полного текста (711 kB) Список цитирования (5)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.13.46332.17304
Аннотация: Ультратонкие поликристаллические пленки Fe выращены на окисленной поверхности подложки Si(001). Проведено измерение удельного сопротивления и магнитного гистерезиса пленок Fe в диапазоне толщин от 2.5 до 10 nm. На основе анализа полученных данных сделан вывод, что при толщине $\sim$6 nm происходит переход к структурно-сплошной пленке. Обнаружено, что данный переход сопровождается появлением у зерен Fe в этой пленке преимущественной ориентации (111).
Финансовая поддержка Номер гранта
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций 18-3-022
Работа частично поддержана Комплексной программой фундаментальных исследований ДВО РАН “Дальний Восток” на 2018–2020 гг. (№ 18-3-022 (0226-18-0031)).
Поступила в редакцию: 20.03.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2018, Volume 44, Issue 7, Pages 595–598
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785018070040
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. В. Балашев, К. С. Ермаков, Л. А. Чеботкевич, В. В. Коробцов, “Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO$_{2}$/Si(001)”, Письма в ЖТФ, 44:13 (2018), 88–95; Tech. Phys. Lett., 44:7 (2018), 595–598
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BalErmChe18}
\by В.~В.~Балашев, К.~С.~Ермаков, Л.~А.~Чеботкевич, В.~В.~Коробцов
\paper Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO$_{2}$/Si(001)
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2018
\vol 44
\issue 13
\pages 88--95
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5768}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.13.46332.17304}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=35270663}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2018
\vol 44
\issue 7
\pages 595--598
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785018070040}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5768
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v44/i13/p88
    • Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024