|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO$_{2}$/Si(001)
В. В. Балашевab, К. С. Ермаковb, Л. А. Чеботкевичb, В. В. Коробцовab a Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, г. Владивосток
b Школа естественных наук, Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток
Аннотация:
Ультратонкие поликристаллические пленки Fe выращены на окисленной поверхности подложки Si(001). Проведено измерение удельного сопротивления и магнитного гистерезиса пленок Fe в диапазоне толщин от 2.5 до 10 nm. На основе анализа полученных данных сделан вывод, что при толщине $\sim$6 nm происходит переход к структурно-сплошной пленке. Обнаружено, что данный переход сопровождается появлением у зерен Fe в этой пленке преимущественной ориентации (111).
Поступила в редакцию: 20.03.2018
Образец цитирования:
В. В. Балашев, К. С. Ермаков, Л. А. Чеботкевич, В. В. Коробцов, “Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO$_{2}$/Si(001)”, Письма в ЖТФ, 44:13 (2018), 88–95; Tech. Phys. Lett., 44:7 (2018), 595–598
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5768 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v44/i13/p88
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 42 | PDF полного текста: | 8 |
|